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詳細情報 |
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| ハイライト: | JIS C0044の低下のテスター,低下の試験機IEC 60068-2-32,GB/T2423.8低下の試験機 |
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製品の説明
3つの場所の落下高さの携帯電話のマイクロ低下の試験機
この機械は携帯電話のデスクトップの低下の耐久性テスト特別な検出装置のために適している。同時に、それは自由落下テストの電池のために適している、携帯無線電話、電子辞書、タブレットのPCおよび他の小さい消費者電子プロダクトおよび部分。
1. 製品名: 携帯電話のマイクロ低下の試験機
2. プロダクト モデル: GX-6052-W2
3.標準に合致しなさい:JIS C0044、IEC 60068-2-32、GB/T2423.8
4.技術的な変数:
| 低下の電話同時に | 2 |
| 正当な標本の重量 | 1kg （最高） |
| 落下高さ | 0-150mm |
| テスト速度範囲 | 6 | 20回/min |
| PLCのコントローラーおよびタッチ画面 | 1組の |
| 機械サイズ | 630*550*750mm |
| 機械重量 | 約40のkg |
| 落下モード | 空気 |
| 落下の数 | タッチ画面の表示は、0-999999回置くことができる |
| ガスの源 | 鋭利さ0.5 MPa |
| 電気源 | 1∮、220VAC±10%、50Hz、または指定される |
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